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大样品检测仪器提供8英寸硅片均匀性检测支持
来源:优德中文网站光电，ITECOE | 作者:itec20 | 发布时间: 1453天前 | 2734 次浏览 | 分享到:
ITECOE，优德中文网站光电在6英寸、8英寸大型硅片镀膜均匀性检测方面具有丰富检测经验。依靠XY水平方向多点检测技术，确保检测样品完整性。
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